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“2015物联网与智能硬件测试技术研讨会”成功举办

 

    5月21日,由上海集成电路技术与产业促进中心(ICC)和同耀实验室联合举办的“2015年物联网与智能硬件测试技术研讨会”在ICC多功能厅成功举办。全国各地的70余名业界专业人士参加了研讨会。
    随着物联网的深入推进,各种智能硬件层出不穷,相关技术的标准化工作也越来越得到业界的重视,而标准化则是实现物-物相连的关键要素,其测试认证技术显得尤为重要。本次会议,来自同耀实验室、ICC实验室、上海信息安全测评认证中心、上海软件测试评测中心、中国信息通信研究院泰尔终端实验室、中国电子技术标准化研究院、韩国HCT测试实验室等多家实验室的技术人员就Wi-Fi,蓝牙、RFID、Zigbee、无线充电等物联网与智能硬件的测试技术进行了交流研讨。

上海集成电路技术与产业促进中心
2015.6.8

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