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ICC简报

ICC举办天线OTA测量国际研讨会

　　ICC与中科国技RFID测试技术研究联合实验室于2014年3月17日下午在ICC多功能会议厅举办了“天线OTA测量国际研讨会:RFID手机天线设计、生产及OTA测试中的新技术”。
此次研讨会邀请到了加拿大EMSCAN公司的国际知名天线测量专家Ruska Patton先生，为来宾呈献了最新的天线测量技术，包括对手机天线的方向图以及TRP、TIS等重要指标的测量，对RFID天线在设计生产应用等方面的应用等。

　　研讨会不但吸引了上海10多家企业和机构参加，还汇聚了来自深圳、山东等多地多家企业和机构。近30名来宾的积极参与使得研讨会现场气氛非常活跃。国外嘉宾的精彩演说以及演讲结束后的技术问题交流和设备演示使得此次研讨会受到一致好评。不仅达到了技术业务交流的目的，更展现了RFID联合实验室的技术业务实力，给来宾留下了深刻印象。