2013年7月18日下午，由上海产业技术研究院、上海集成电路技术与产业促进中心及复旦大学Auto-ID实验室共同主办的“物联网的现实与未来——机遇与挑战并存”高端讲座在上海科学院成功举行。上海科学院兼上海产业技术研究院院长钮晓鸣出席讲座并致辞。讲座由复旦大学闵昊教授主持，上海产业技术研究院、上海集成电路行业协会、上科院直属单位、上海RFID协会、RFID联盟及相关企事业单位共80余人聆听了讲座。
本次讲座邀请了国际物品编码中心GS1系统完整性和全球伙伴关系副总裁Henri Barthel先生作主题演讲。Barthel长期致力于自动识别和数据获取技术和应用的研究和全球推进工作，对数据的采集、管理、分析和利用有着非常丰富的经验。演讲中，Barthel在回顾过去40年数据采集和共享技术的基础上，详细介绍了供应链可追溯、可视化方面的应用，重点探讨了关于识别、数据质量、隐私与安全、监管等方面的问题，和与会者共同分享了全球物联网标准化进展。
Barthel的演讲，还为与会者带来了GS1产品编码标准的最新研究动态，对如何提高数据源头的可信度，如何在互联网上实现标准化的产品信息等物联网的最新研究方向进行了描述，并就未来20年国际物联网技术发展趋势给出了自己的观点和建议。
最后，Barthel先生同与会者围绕推进物联网应用以及GSI标准体系等问题进行了交流，回答了大家关心的问题。
此次讲座，不但拓宽了与会者的国际视野，而且对推进国内物联网应用和标准化建设将起到有益的指导和启示作用。
上海集成电路技术与产业促进中心
2013.7.22
