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“RFID测试技术专题研讨会”成功举办


 

 

2月19日，由上海集成电路技术与产业促进中心(ICC)与上海市RFID工程技术协会共同主办的“RFID测试技术研讨会”在ICC成功举行。本次研讨会邀请到中科国技和芬兰Voyantic公司的专家为业界介绍了最新UHF RFID测试技术。超过30名专业人士参加了本次会议。

作为ICC RFID测试平台的合作单位，中科国技着重介绍了依据RFID产品的生命周期分析每个阶段的产品特点和通过三个维度的测试分析RFID产品质量的方法，同时，针对当今RFID产品，阐述了主要存在的问题，以及在测试中的一些主要评价指标，为RFID企业解决产品问题提供相应的方案。

Voyantic专家重点介绍了在设计和生产过程中优化标签性能的原理，以及最终标签选择和定案的方法，并为与会者带来了国际上UHF 标签和RFID应用方面的最新资讯。 Voyantic公司于2004年在赫尔辛基大学创办，其客户包括参与RFID产品研发的国际知名大学以及RFID业界巨头Impinj，以及Omni-ID和UPM等公司。

ICC在会上介绍了上海RFID测试公共服务平台的各项测试能力。

 

                        上海集成电路技术与产业促进中心

                                     2013.2.20

 

 

 
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