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“RFID标签设计、生产及测试中的新技术” 国际研讨会成功举办


 

 

10月15日，上海集成电路技术与产业促进中心（ICC）与北京中科国技信息系统有限公司在上海联合举办了“RFID标签设计、生产及测试中的新技术”国际研讨会，四位国外专家为会议带来了RFID领域的最新技术。德国DELO公司和纽豹公司的专家与参会者分享他们在提高标签生产效率和量率方面的经验和成果；芬兰Walki公司介绍了其在RFID天线设计制造方面创新的4E理念；芬兰Voyantic公司介绍了RFID标签生命周期的测试方案以及如何通过测试数据分析标签的优劣。会上，ICC也向与会者介绍了RFID联合实验室在测试方面的最新成果。

RFID应用是一项系统工程，需要有好的产品，低成本的方案，丰富的应用工程实施经验。本次研讨会从标签设计、生产及测试的不同领域，给与会者带来了更加全面的视角。来自业内相关企业共120多人参加了本次研讨会。

 

                         上海集成电路技术与产业促进中心

                                       2013年10月31日

 
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